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  • TI990德國BRUKER中國代理納米力學測試系統(tǒng)
    TI990德國BRUKER中國代理納米力學測試系統(tǒng)
    德國BRUKER中國代理納米力學測試系統(tǒng)以專*技術(shù)實現(xiàn)納米至微米尺度定量力學與摩擦學表征。產(chǎn)品涵蓋獨立臺式（TI系列）、電鏡聯(lián)用（PI系列）及在線自動系統(tǒng)，支持準靜態(tài)壓痕、動態(tài)力學（nanoDMA）、摩擦磨損、原位SPM成像及超快力學性能成像。配備環(huán)境控制模塊，可模擬實際工況。廣泛應(yīng)用于半導體、薄膜涂層、生物材料及能源等領(lǐng)域，為材料研發(fā)提供精準、可靠的多維度測試解決方案。
    更新時間：2026-03-16    訪問量：15    型號：TI990
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  • UMT TriboLab德國BRUKER摩擦磨損與機械性能測試儀
    UMT TriboLab德國BRUKER摩擦磨損與機械性能測試儀
    德國BRUKER摩擦磨損與機械性能測試儀，采用模塊化設(shè)計，可模擬旋轉(zhuǎn)/往復運動、潤滑、溫濕度及電化學腐蝕等復雜工況。系統(tǒng)集成全系列力傳感器與環(huán)境控制模塊，支持摩擦系數(shù)（低至10?³級）、磨損率、高溫硬度及機械性能測試。廣泛應(yīng)用于材料表面工程、CMP工藝開發(fā)、汽車制動與生物醫(yī)學等領(lǐng)域，為摩擦學研究及材料可靠性驗證提供精準、可重復的實驗室解決方案。
    更新時間：2026-03-16    訪問量：23    型號：UMT TriboLab
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  • FilmTek 2000德國BRUKER中國代理橢偏儀/膜厚儀
    FilmTek 2000德國BRUKER中國代理橢偏儀/膜厚儀
    德國BRUKER中國代理橢偏儀/膜厚儀基于非接觸式光學技術(shù)，集成光譜反射、光譜橢偏及多角度聯(lián)用等多種配置，內(nèi)置先*材料模型與全局優(yōu)化算法，可快速、無損、高精度同步測定薄膜厚度、折射率、消光系數(shù)等參數(shù)。專*MADP與DPSD技術(shù)實現(xiàn)折射率分辨率高達2×10??，測量范圍覆蓋從亞原子層到超百微米厚度。廣泛應(yīng)用于半導體、光電子、先*封裝及硅光子學等領(lǐng)域，為薄膜表征提供精準可靠的解決方案。
    更新時間：2026-03-16    訪問量：27    型號：FilmTek 2000
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  • 德國BRUKER中國代理生物型原子力顯微鏡
    德國BRUKER中國代理生物型原子力顯微鏡
    德國BRUKER中國代理生物型原子力顯微鏡專為生命科學設(shè)計，實現(xiàn)AFM與超分辨光學系統(tǒng)（共聚焦、STED、STORM等）無縫集成，支持從單分子到組織樣品的原位形貌與力學測量。產(chǎn)品線涵蓋通用型NanoWizard、視頻級高速NanoRacer、快掃型ULTRA Speed及單分子力譜ForceRobot等系列，廣泛應(yīng)用于分子動態(tài)追蹤、細胞黏附力測試與組織力學表征，助力用戶在納米尺度揭示生物物理機制。
    更新時間：2026-03-06    訪問量：85    型號：
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  • 德國BRUKER中國代理探針式輪廓儀Dektak XTL
    德國BRUKER中國代理探針式輪廓儀Dektak XTL
    德國BRUKER中國代理探針式輪廓儀Dektak XTL集五十五年技術(shù)積淀，是薄膜厚度、應(yīng)力、表面粗糙度與形貌測量的金標準。DektakPro以卓*易用性提供亞納米級高精度數(shù)據(jù)，滿足科研與工業(yè)通用需求；DektakXTL專為大尺寸晶圓和面板設(shè)計，集成防震與自動化系統(tǒng)，適應(yīng)嚴苛生產(chǎn)環(huán)境。廣泛應(yīng)用于半導體制程監(jiān)控、微電子器件驗證及光電器件開發(fā)，為高*制造提供可靠、可重復的表面表征解決方案。
    更新時間：2026-03-06    訪問量：64    型號：
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  • 德國BRUKER中國代理探針式輪廓儀Dektak Pro
    德國BRUKER中國代理探針式輪廓儀Dektak Pro
    德國BRUKER中國代理探針式輪廓儀Dektak Pro集五十五年技術(shù)積淀，是薄膜厚度、應(yīng)力、表面粗糙度與形貌測量的金標準。DektakPro以卓*易用性提供亞納米級高精度數(shù)據(jù)，滿足科研與工業(yè)通用需求；DektakXTL專為大尺寸晶圓和面板設(shè)計，集成防震與自動化系統(tǒng)，適應(yīng)嚴苛生產(chǎn)環(huán)境。廣泛應(yīng)用于半導體制程監(jiān)控、微電子器件驗證及光電器件開發(fā)，為高*制造提供可靠、可重復的表面表征解決方案。
    更新時間：2026-03-06    訪問量：67    型號：
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